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低压成套开关的温升试验

三新电力 - 技术部    2014-12-23    浏览:    二维码

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摘要:低压成套开关设备的温升试验可以分为电路及装置的试验。 温升试验是验证设备在正常使用条件下,通以额定电流,各部分的温升值应符台有关标准的规定。 装在装置内部的操作手柄,其温升允许略高些。 除非另有规定,对可以接触但正常工作时...

低压成套开关设备的温升试验可以分为电路及装置的试验。

温升试验是验证设备在正常使用条件下,通以额定电流,各部分的温升值应符台有关标准的规定。

装在装置内部的操作手柄,其温升允许略高些。

除非另有规定,对可以接触但正常工作时不需触及的外壳和覆板,允许其温升提高10K。

设备按正常使用情况放置,门、镉板、覆板、盖板都应装好。

试验方案应选择损耗Zui大的方案。

进行单独电路的温升试验时,电路应通以设计规定的额定工作电流。

进行装置的温升试验时,在考虑了额定分散系数后,应选择一个或几个有代表性的并能获得高温升的电路,给这些电路通以各自设计规定的额定工作电流。

试验时辅助电路(包括继电器、接触器、脱扣器的线圈)应加上设计规定的额定工作电压。

装置中如果包含有熔断器,试验时应装上适合于试验的熔体(由制造厂规定)。熔体的功率损耗、试验中所用的外接导体(导线)尺寸和布置情况应写入试验报告中。

测量部位包括:

(1)母线连接处以及其他元器件与母线的连接处。

(2)抽屉式设备的母线室、功能单元室和电缆室的空间。

(3)可触及的门、手柄和覆板。

以上三种部位均应尽量选产生温升高点进行测量。

当温度变化不超过1℃/h时,则可记录其温升值。其值应不超过有关标准的规定值。装置内绝缘没有破坏,元器件在设备内的温度条件下正常工作,则温升试验合格。

低压成套开关的温升试验

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